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ISO 26262功能安全:贴片二极管失效模式与雷达传感器冗余设计

文章出处:行业新闻 网责任编辑: 东莞市平尚电子科技有限公司 阅读量: 发表时间:2025-06-19 19:15:04

ISO 26262功能安全:贴片二极管失效模式与雷达传感器冗余设计


当L3级自动驾驶车辆在暴雨中巡航时,雷达电源保护二极管的0.02%瞬态开路失效,引发24V负载突降电压直击MMIC芯片——这相当于ASIL-B系统遭遇ASIL-D级危害事件。平尚科技的故障树分析(FTA)表明:贴片二极管单点故障可导致雷达误报率飙升47倍,而符合ISO 26262的冗余架构能将风险压缩至10⁻⁹/h。


雷达误报


随着2023版ISO 26262新增半导体失效模型要求(Part 11),车规二极管的失效模式影响和诊断分析(FMEDA)成为ASIL-C/D系统强制项。雷达传感器中整流、续流、ESD防护等二极管的失效率需<1 FIT(1故障/10亿小时),平尚科技开发的 双通道诊断+热备份 方案正为毫米波雷达构筑功能安全基石。


双通道和热备份



贴片二极管四大失效模式与雷达风险


短路失效(占比68%)

  • 机理:过流导致金属迁移形成枝晶,短路电阻<0.1Ω

  • 雷达影响:电源总线电压跌落至2.1V,DSP算法崩溃

  • 危害等级:ASIL-C(车辆误制动)


开路失效(占比27%)

  • 机理:焊点热疲劳裂纹(-40℃~125℃循环5000次)

  • 雷达影响:续流功能丧失,电机反电动势击穿MOSFET

  • 危害等级:ASIL-D(系统宕机)


参数漂移(占比4%)

  • 机理:湿热环境导致肖特基势垒高度下降0.15eV

  • 雷达影响:反向漏电流从1μA增至10mA,LNA噪声系数恶化6dB

  • 危害等级:ASIL-B(探测距离缩短30%)


焊接失效(占比1%)

  • 机理:锡须生长造成相邻引脚桥接

  • 雷达影响:I²C总线锁死,点云输出冻结

  • 危害等级:ASIL-B(目标跟踪丢失)


二极管焊接失效(1)



ISO 26262对二极管的严苛要求


ASIL-D级硬件指标


ASIL-D级硬件指标


平尚科技雷达冗余架构创新


平尚科技文章lgo


电源保护双通道设计


                ┌──────────────┐

 主电源 ────┤二极管组1├───▶ 雷达MMIC

                │  (SS34)                   

                └───▲──┬──────┘

                    │  │诊断电路

                ┌───┴──▼──────┐

 备份电源 ────┤二极管组2├───▶ 比较器

                │  (SS34)                    

                └──────────────┘


  • 实时电流监测:采样电阻(5mΩ)检测双路电流差异>10%时触发报警

  • 热插拔备份:MOSFET开关在200μs内切换至备用二极管路径

  • 失效锁定:故障二极管被物理隔离,避免故障传导



智能诊断算法


1.脉冲式健康检测

每100ms注入1mA测试电流,测量正向压降(正常值0.5V±5%)


if (Vf_test > 0.7V || Vf_test < 0.3V) 

     trigger_fault(FAULT_DIODE_OPEN_SHORT);


2.温度-电压耦合模型

Vf=qnkTln(IsIf+1)

  • 当实测值偏离理论值>8%时判定参数漂移


3.AI预测性维护

  • 基于历史数据预测焊点疲劳寿命(准确率>93%)


系统级安全性能验证


在ISO 21448 SOTIF测试中表现:


SOTIF测试中表现

满足ISO 26262 ASIL-D对随机硬件失效要求(PMHF<10⁻⁸/h),并通过独立安全单元(SEooC)认证。


肖特基二极管1


平尚科技的电磁兼容实验室,故障注入系统正以0.1ns精度模拟二极管瞬态开路。当每个失效模式都被转化为诊断算法的训练样本,当每对冗余二极管都构成生死相依的守护联盟——毫米波雷达的感知锋芒,终在功能安全的铁律下无懈可击。

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